Browsing "전자전기공학전공" byAuthorLee J.-H.
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| Issue Date | Title | Author(s) | Type |
|---|---|---|---|
| 2002 | An anomalous device degradation of SOI narrow width devices caused by STI edge influence | 신형순 | Article |
| 2001 | Low-frequency noise degradation caused by STI interface effects in SOI-MOSFETs | 신형순 | Article |
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