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쐐기판 간섭계를 이용한 극화 폴리머의 선형전기광학효과 측정

Title
쐐기판 간섭계를 이용한 극화 폴리머의 선형전기광학효과 측정
Authors
조주희
Issue Date
1998
Department/Major
대학원 물리학과
Keywords
쐐기판간섭계폴리머선형전기광학
Publisher
이화여자대학교 대학원
Degree
Master
Abstract
쐐기판 간섭계를 이용하여 극화 폴러머의 선형전기광학 효과를 측정하였다. 쐐기판 간섭계는 기준 파면과 기준 파면을 옆으로 층밀림한 파면을 간섭시키는 구조를 가지고 있기 때문에 매우 안정된 두 빔 간섭계이다. 선형전기광학 효과 측정의 실험에서 선형전기광학 효과로 인한 광학적 위상 변조는 쐐기판 간섭계의 간섭 세기의 변화에 따라 변화한다. 먼저 기준면 방법을 이용하여 극화 폴리머의 굴절률 변화를 이론적으로 알아보았고, 쐐기판 층밀리기 간섭계의 광로를 연구하여 이 간섭계를 이용한 측정값들로부터 선형전기광학 계수를 유도하는 방법을 제시하고 실험 결과를 분석하였다. 입사각의 변화에 따라 변조 세기에 대한 간섭 세기의 비를 구해 선형전기광학 텐서의 r_(13)성분을 구하였고, 입사빔 편광의 변화에 따라 세기비를 구한 결과 r_(33)/r_(13)의 값이 2.92 임을 측정하였다. 이에 쐐기판 층밀리기 간섭계가 선형전기광학 효과 측정에 매우 유용함을 확인할 수 있었다.;A wedge interferometer is adopted to measure the linear electro-optic co-efficient of the poled polymer film. In the wedge interferometer, the sheared wavefront interferes with the original wavefront to produce a highly stable two-beam interference pattern. In the electro-optic coefficient measurement, the optical phase modulation occurring from the linear electro-optic effect is converted to the intensity modulation in the wedge interferometer. Theoretical analysis shows that the modulation depth depends on the wedge angle linearly. Furthermore, the increased reflective angle at the wedge gives an increased signal-to noise ratio, permitting the control of the signal-to noise ratio. In the experiment, the tensor component r_(l3) of the linear electro-optic coefficient was determined from the incident angle dependence measurement at the sample. Also the tensor ratio,r_(33)/r_(13) was determined from the polarization angle dependence mearurement, the result being 2.92 different from the thermodynamic value of 3.0.
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