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IT분야 연구개발 인력의 직무스트레스에 영향을 주는 요인

Title
IT분야 연구개발 인력의 직무스트레스에 영향을 주는 요인
Other Titles
A Study on the Factor Influencing Job Stress of the R&D Personnel in the IT Field
Authors
강민정
Issue Date
2011
Department/Major
교육대학원 상담심리전공
Publisher
이화여자대학교 교육대학원
Degree
Master
Advisors
양윤
Abstract
본 연구는 IT분야 연구개발 인력의 직무스트레스가 어느 정도이며, 그에 영향을 미치는 직무스트레스 요인으로서 개인적 특성들(A유형 성격, 통제소재, 부정적 정서성, 자기효능감 그리고 근무연한)이 각각 어떠한 영향을 미치는지 알아보고자 하였다. 본 연구는 국내 대기업 전자회사에서 근무하는 연구개발 인력 300명을 대상으로 설문조사를 하였으며 총 208부를 최종으로 분석하였다. 수집된 자료는 SPSS 19.0 프로그램을 사용하여 연구문제에 따라 기술통계, 상관분석, 표준다중회귀분석을 실시하였다. 이를 통해 각 변인들의 관련성을 살펴보았고, 각 변인들이 직무스트레스를 얼마나 설명하는지 분석하였다. 본 연구에 사용된 측정도구는 탁진국, 이강숙, 홍현숙(2002)이 개발하고 서동미(2009)가 수정한 직무스트레스 척도, Girdano, Everly 및 Dusek(1990)이 개발한 A유형 성격을 측정하기 위한 척도, Rotter(1966)가 개발하고 차재호, 공정자, 김철수(1973)가 수정한 내외통제 척도(Internal-External Control Scale), Goldberg(2001)의 International Personality Item Pool(IPIP) 5요인 성격검사 중 부정적 정서성에 관한 척도, 김아영과 차정은(1996)의 자기효능감 척도이다. 본 연구의 분석결과를 요약하면 다음과 같다. 첫째, 직무스트레스와 A유형 성격, 통제소재, 부정적 정서성, 자기효능감 그리고 근무연한의 상관관계를 살펴본 결과, 직무스트레스는 부정적 정서성과 정적 상관관계가 있었으며, 자기효능감과는 부적 상관관계가 있었다. 그 가운데 부정적 정서성이 직무스트레스와 가장 높게 관련되어 있음을 알 수 있었다. 그러나 A유형 성격, 통제소재 그리고 근무연한과는 유의하게 관련되어 있지는 않았다. 즉, IT분야 연구개발 인력의 직무스트레스와 유의하게 관련된 직무스트레스 요인은 부정적 정서성과 자기효능감이라는 것을 의미하며, 이는 부정적 정서성이 높을수록 직무스트레스 수준이 높고, 자기효능감이 높을수록 직무스트레스 수준이 낮다고 해석할 수 있다. 둘째, A유형 성격, 통제소재, 부정적 정서성, 자기효능감 그리고 근무연한 등의 다섯 가지 변인들이 직무스트레스에 얼마나 영향을 미치는지 알아본 결과, 직무스트레스의 약 39% 정도를 설명하고 있었다. 그리고 부정적 정서성, 자기효능감, A유형 성격, 통제소재, 근무연한의 순으로 직무스트레스에 영향을 미치는 것으로 나타났다. 특히 직무스트레스에 대한 설명량이 가장 많은 변인은 부정적 정서성으로서 20%를 설명하였고, 그 다음은 자기효능감으로서 9.8%를 설명하였다. 반면에 설명량이 가장 적은 변인은 근무연한으로서 .2%만을 설명하였다. 이로써 IT분야 연구개발 인력의 부정적 정서성과 자기효능감이 직무스트레스를 설명하는데 있어서 상대적으로 중요한 변인임을 알 수 있었다.;The purpose of the study was to examine the factor influencing job stress of the R&D personnel in the IT field. Especially, I focused on how the individual characteristics as type A behavior pattern, locus of control, negative affectivity, self-efficacy and a working period influence on job stress. Participants were 208 employees of the R&D department at the major company of electronics. For the analysis of the data, reliability analysis, descriptive statistics, correlation analysis and multiple regression analysis by SPSS 19.0 program was used. The summary of the results is as follows; First, there was positive correlation between job stress and negative affectivity. And there was negative correlation between job stress and self-efficacy. However, there were no significant correlations between job stress and the rest. Therefore, if the R&D personnel have high negative affectivity, their job stress is also high. However, if they have high self-efficacy, they feel less job stress. Second, individual characteristics as type A behavior pattern, locus of control, negative affectivity, self-efficacy and a working period could explain job stress by approximately 39%. Negative affectivity which is the highest portion of the overall could explain job stress by approximately 20%. And self-efficacy which is the second highest could explain job stress by approximately 9.8%. Thus, the major factors influencing job stress for the R&D personnel were negative affectivity and self-efficacy.
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