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dc.description.abstract현재 임베디드 시스템에서 소프트웨어가 차지하는 비중과 복잡도가 기하급수적으로 증가함에 따라 소프트웨어 결함이 전체 제품 품질에 심각한 영향을 미치고 있다. 기능 구현에만 집중되던 소프트웨어 개발 활동은 체계적인 개발 방법론 적용과 함께 특히 제품 품질과 직결되는 테스트 활동은 점차 강화되고 있는 추세이다. 일반적으로 임베디드 소프트웨어는 하드웨어나 주변 소프트웨어와의 결합력이 매우 높기 때문에 전체 시스템에 대한 사용 시나리오 기반의 블랙박스 테스트가 주로 수행된다. 블랙박스 테스트는 시스템의 내부 구조를 기반으로 하지 않아 결함 발견 후 그 원인과 위치를 파악하는 데 어려움이 많기 때문에, 이러한 테스트 환경에서 발견된 결함은 디버깅하는 데 많은 시간과 비용이 소모된다. 본 논문은 블랙박스 테스트로 발견된 결함에 대한 디버깅이 쉽지 않음을 고려한 테스트와 디버깅 활동 연계를 지원하는 자동화 방안을 제안한다. 테스트 결과 분석으로부터 결함 원인 위치 추적을 통해 JTAG 기반의 TRACE32 이뮬레이터 환경에서 자동적으로 수행되는 테스트 스크립트 자동 생성 모듈을 구현함으로써 임베디드 소프트웨어 테스팅과 디버깅 공정을 연계시킨다.;Nowadays, as the importance of software in embedded systems has been exponentially rising, the software defects have been largely influencing on the whole product quality in a negative way. Actually, the software development had concentrated only on the implementation of its functionalities, but it has been changing the trend that applies systematic development methodologies and gradually strengthens the test activities which are directly correlated to the products’ quality. Generally, due to the strong coherence between embedded software and hardware or peripheral software, embedded software is tested by using black-box test based on user scenario for the whole system. Black-box test is not based on the internal structures or architecture of the system and after detecting a certain defect, it is highly difficult to recognize its root causes and find out their location information. That’s why debugging activities in this test environment consume a large amount of time and cost. This paper suggests the automation method supporting the cooperation between testing and debugging under consideration for difficulties on solving out the defects detected from black-box test. Through tracing the locations of the defect’s causes from test result analysis, it coordinates embedded software testing and debugging activities by implementing the automated generator of test scripts which are automatically performed in JTAG based TRACE32 emulator environment.-
dc.description.tableofcontentsⅠ. 서론 = 1 A. 연구배경 = 1 B. 연구 목적 및 내용 = 3 C. 논문 구성 = 4 Ⅱ. 기반 연구 = 5 A. 테스팅과 디버깅 활동 = 5 B. 테스트 산출물(Test Deliverable): 결함 보고서 = 8 C. 동적 메모리 결함 = 10 D. 디버깅 기법 연구 = 13 1. 디버깅 기법 종류 = 13 2. On-chip 디버그 로직: JTAG = 15 Ⅲ. 테스팅과 디버깅 연계 = 18 A. 결함 유형에 따른 디버깅 전략 수립 = 18 1. 디버깅 영역(Breakpoint Candidates) = 19 2. 모니터링 변수/값(Monitoring Variables/Values) = 22 3. PASS/FAIL 판단 기준(PASS/FAIL Criteria) = 25 B. 테스트 스크립트 구축 = 26 C. 테스트 스크립트 자동 생성 알고리즘 개발 = 29 1. 테스트 스크립트 생성 및 실행 환경 = 31 2. 테스트 스크립트 실행 시나리오 = 33 Ⅳ. 적용 사례 및 분석 = 44 A. 적용 사례 = 44 1. 적용 대상 = 44 2. 결과 분석 = 45 B. 기대 효과 분석 = 48 1. 전체 개발 공정 단축 = 48 2. 품질 높은 결함 보고서로서의 자질 = 49 Ⅴ. 결론 및 향후과제 = 50 참고문헌 = 52 ABSTRACT = 54-
dc.format.extent2502809 bytes-
dc.publisher이화여자대학교 대학원-
dc.title임베디드 소프트웨어 시스템 테스트에서의 동적 메모리 결함 해결을 위한 테스팅과 디버깅 연계 방안 연구-
dc.typeMaster's Thesis-
dc.title.translatedAutomated Debugging Cooperative Method for Dynamic Memory Defects in Embedded Software System Test-
dc.creator.othernameChoi, Yoo Na-
dc.format.pageⅵ, 55 p.-
dc.identifier.major대학원 컴퓨터공학과- 2-
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