안드로이드 기반 시스템에서의 메모리 누수 탐지를 위한 테스트 방법과 사례 연구

Abstract

안드로이드는 오픈 플랫폼으로 단말 제조사들이 다양하기 때문에 다양한 계층에서 소프트웨어의 변경이 발생하게 된다. 따라서 안드로이드의 모든 계층에 결함이 내재되어 있을 가능성이 존재하게 된다. 하지만 구글(Google)에서 제공하는 테스트 도구는 어플리케이션 자체에만 초점을 맞추고 있어 다양한 계층과의 상호작용에서 발생하는 결함을 찾아내기 힘들다. 안드로이드 플랫폼에서는 메모리나 성능, 어플리케이션 간의 상호작용 등으로 인해 다양한 결함이 발생할 수 있다. 그 중에서도 특히 메모리 누수로 인한 결함은 메모리 사용량을 증가시키고 전체 시스템의 성능을 저하시킴으로써 사용자의 불편을 초래하게 된다. 본 논문에서는 후킹 기법을 이용함으로써 런타임에 안드로이드의 다양한 계층에서의 메모리 사용을 분석하여 메모리 누수를 탐지하는 기법을 제안하고 이를 실제 안드로이드 단말에 적용한 사례를 분석한다.;Android is an open platform. Because various handset makers are developing android devices, many changes will occur in the various layers of software. So all layers in android has possibility that fault is there. However, testing tools provided by Google are focused only on the application itself , it's difficult to find fault that occurs in the interaction between the various layers. Android platform will be occur various defects due to memory, performance, and the interaction between applications. Among various defects, memory leaks can result in user's inconvenience by increasing the memory usage and by decreasing overall system performance. In this paper, technique for detecting memory leaks by hooking memory usage in the various layers is proposed. And it analyzes the actual practices are applied to the android handset.