AVN 시스템의 런타임 결함 검출을 위한 테스트 케이스 설계 및 사례 연구

Abstract

일반적으로 소프트웨어에서 발생한 결함을 수정하기 위해 결함이 발생한 당시와 동일한 상황을 재현하고 실행을 추적해 결함의 위치와 유형을 파악한다. 하지만 임베디드 시스템은 다양한 외부 입력 데이터들로 인해 결함이 발생한 당시와 동일한 상황을 재현하기가 어렵다. 과거 연구를 통해 임베디드 시스템에서 발생한 런타임 결함을 재현 없이도 파악할 수 있도록 결함이 발생한 즉시 결함의 위치와 유형을 파악하는 방법을 제안했다. 또한 제안한 방법을 적용해 런타임 결함 검출을 위한 테스트 자동화 도구를 개발했다. 본 논문의 목적은 실제 임베디드 시스템에서 발생한 필드 결함에 대해 우리가 제안한 방법으로 정확하게 런타임 결함을 검출할 수 있는지를 연구하는 것이다. 이를 위해 런타임 결함을 발생시키기 위한 테스트 케이스를 설계하고 자체적으로 개발한 테스트 자동화 도구를 적용해 실제 런타임 결함을 검출한 사례를 분석했다.;In general, analyzing a runtime fault requires reproducing the fault by collecting data at a time of fault occurrence. Since an embedded system has various data that determines the execution, it is neither easy to collect data related to fault nor to reproduce the fault based on it. We proposed method to detect faults and suggest debugging points at runtime, rather than debugging through fault reproduction and used our method automated test tool in previous research. The main idea of this paper is to examine whether runtime faults are detected by proposed method. To that end, we designed test cases to detect runtime faults in AVN(Audio, Video, Navigation) system and analyzed test cases that report the fault.